化学化学尺寸测试

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.粒度分布：平均粒径，粒径分布宽度，累积分布。

2.形貌尺寸：等效直径，长径比，圆度。

3.厚度测定：涂层厚度，膜层厚度，片材厚度。

4.尺寸稳定性：热处理前后尺寸变化，吸湿尺寸变化，固化收缩率。

5.表面粗糙度：算术平均粗糙度，最大高度，轮廓峰谷间距。

6.比表面积相关尺寸：比表面积换算粒径，孔径分布平均值，孔容关联尺寸。

7.聚集体尺度：团聚体平均尺寸，团聚体分布，解聚后尺寸。

8.颗粒形状因子：片状度，针状度，球形度。

9.晶体尺寸：晶粒尺寸，晶面间距换算尺寸，晶粒分布。

10.膜层均匀性：厚度均匀性，边缘效应尺寸差，局部波动。

11.尺寸重复性：批间尺寸偏差，同批尺寸离散度，测量重复性。

12.尺寸合格率：尺寸公差内比例，超限比例，边界尺寸统计。

检测范围

无机粉体、有机粉体、催化剂载体、颜料颗粒、涂料成膜层、树脂颗粒、聚合物微球、溶胶凝胶颗粒、活性炭颗粒、功能陶瓷粉体、化学助剂颗粒、胶黏剂固化层、电池材料粉体、吸附材料颗粒、纳米材料分散体、化工结晶体、胶体溶液、薄膜材料

检测设备

1.激光粒度分析仪：测定颗粒粒径分布与统计参数，适用于粉体与分散体。

2.动态光散射仪：测定纳米粒子平均粒径与分布，适合胶体体系。

3.扫描电子显微镜：观察颗粒形貌并测量局部尺寸，支持形状分析。

4.透射电子显微镜：测定微小颗粒尺寸与形貌细节，适合纳米尺度。

5.光学显微镜：用于较大颗粒尺寸测量与形貌统计。

6.比表面积分析仪：通过比表面积推算特征粒径与孔径相关尺寸。

7.原子力显微镜：测定表面形貌与粗糙度，获取微观高度尺寸。

8.膜厚测量仪：测定涂层或膜层厚度与均匀性。

9.激光扫描测微仪：测量片材与颗粒外形尺寸及尺寸变化。

10.显微图像分析系统：对显微图像进行尺寸统计与形状因子计算。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质